Paranovni - Sciences Parallèles

L'essor des nanotechnologies et les besoins croissants en caractérisations structurales et chimiques à l'échelle nanométrique ont souligné au cours des dernières années la nécessité d'outils d'analyse physico-chimique associant une très grande sensibilité et une résolution spatiale atomique.

Dans ce contexte, le développement récent de dispositifs de correction des aberrations des microscopes électroniques et la commercialisation en 2005 du premier microscope équipé en série d'un correcteur d'aberrations géométriques ont constitué une avancée considérable donnant accès à des informations jusque-là inaccessibles par des techniques de caractérisation classiques.